离子研磨系统 产品概述： 为了对样品内部结构进行观察、分析，必须让样品内部结构显露出来，日立离子研磨装置使用大面积低能量的Ar离子束，加工出无应力损伤的截面，为SEM观察样品的内部多层结构、结晶状态、 异物解析、层厚测量等提供有效的前处理方法。

半导体参数测试仪概述：配备集成电脑及显示屏一体机箱，包含高精度电流测量模块、电容测量模块、超快脉冲模块，配合专用数据测量分析软件，无需外接其他仪表即可实现I-V曲线，I-t曲线，C-V曲线及C-f曲线的测量并能在屏幕实时显示测量结果。具有瞬态波形捕获模式和任意波形发生器，支持多电平脉冲波形，可编程分辨率10 ns 。

扫描隧道显微镜 技术优势： 第三代的一个关键特征是液态氦保持时间增加 30%。 这对于所有低温实验都有很大的优势，降低了运行成本，并为用户提供了更多的灵活性。 新型低温器设计可实现长期光谱实验，而不会影响 LT STM 始终提供的稳定性。

TEM Mill 精密离子减薄仪 功能介绍： 1. 样品载台X-Y可调，可根据需要调整样品减薄位置 2. 具备原位实时观察及记录减薄过程功能 3. 样品可360°连续旋转或摇摆，离子束自动避让样品夹 4. 可通过时间、温度以及透光性自动停止 5. 可选液氮冷台配置，去除热效应对样品的损伤 6.可选真空或惰性气体转移装置，隔绝样品与水氧接触

电子万能试验机 产品简述： MTS Criterion40系列测试系统采用高速率、低振动电机驱动装置和集成、数字闭环控制装置，在1N到100kN范围内实现力控、位移控或应变控的试验。

热翘曲系统 技术参数： 1. 最大样品尺寸 : 400 mm x 400 mm 2. 最小样品尺寸 : 0.5 mm x 0.5 mm 3. 在 2 秒内获得 140 万个数据点 4. Warpage 分辨率 1 µm 5. 最高每秒加热 3.5ºC 摄氏度 6. 红外线加热和对流冷却来控制温度