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透射电镜样品杆清洗机

简要描述:CIF透射电镜样品杆清洗机采用远程离子清洗源设计,清洗快速高效,低轰击损伤,同时可实现常规等离子清洗。主要用于TEM透射电镜样品杆的等离子体清洗和真空检漏。

  • 产品型号:CIF-TEM
  • 厂商性质:经销商
  • 更新时间:2024-09-05
  • 访  问  量: 721

详细介绍

一、产品概述:

透射电镜样品杆清洗机是一款专为透射电子显微镜(TEM)样品准备而设计的高效清洗设备。该机采用先进的清洗技术,通过超声波和化学溶剂的结合,能够有效去除样品杆表面的有机污染物、灰尘和其他杂质,确保样品在显微观察中的清洁和高质量成像。透射电镜样品杆清洗机具有自动化控制系统,操作简单便捷,并且可根据不同样品材料和清洗需求进行参数调节。广泛应用于材料科学、纳米技术和生物医学等领域,为研究人员提供可靠的样品处理解决方案,提高实验结果的准确性和重现性。

CIF透射电镜(TEM)样品杆清洗机采用远程离子清洗源设计,清洗快速高效,低轰击损伤,同时可实现常规等离子清洗。主要用于TEM透射电镜样品杆的等离子体清洗和真空检漏。

二、设备用途/原理

·设备用途

透射电镜样品杆清洗机主要用于清洗透射电子显微镜(TEM)样品杆,以去除其表面的有机污染物、灰尘和其他杂质,确保样品在显微观察中的清洁与高质量成像。该设备广泛应用于材料科学、纳米技术和生物医学等研究领域,提升实验结果的准确性和重现性。

·工作原理

该设备通常采用超声波清洗和化学溶剂相结合的方式进行清洗。首先,样品杆被放置在清洗槽中,清洗液通过超声波振动产生细小气泡,这些气泡在破裂时能够有效去除样品表面的污染物。同时,清洗液中的化学成分进一步分解和溶解杂质。清洗过程能够均匀、全面地处理样品杆,确保其表面达到所需的清洁度,以提高透射电子显微镜的成像质量和分析准确性。

三、主要技术指标:

产品型号

CIF-TEM

等离子电源

13.56MHz射频电源,射频功率5-120W可调,

远程等离子源,自动匹配器

清洗室

清洗室尺寸Ø180xH100mm

清洗数量

可同时清洗3支TEM样品杆

适配品牌

THERMO FISHERFEI)、日立HITACHI、捷欧路JEOL

气体控制

标配单路质量流量计(MFC)可选双路。50毫升/分,自动控制气体流量,不会受环境温度和压力变化影响

气源选择

根据需求氧气、氩气、氮气、氢气等多种清洗气源选择

真空控制

质量流量计(MFC),皮拉尼真空计,测量范围1E-5Torr

操控方式

7寸全彩触摸屏控制,中英文互动操作界面

真空泵

前级泵

抽气速率2 L/s

分子泵

极限真空:CF:5x10-6Pa,ISO-K: 3x10-5Pa

分子泵抽速 >80L/s (N2)

入口法兰:DN100CF/DN100 ISO-K  

质量保证

二年质保,终身维护

   源

220V,50/60Hz,300W

四、产品特点

1. 远程离子清洗源

2. 一机多用

3. 清洗快速高效,低轰击损伤          


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