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微型轮廓仪(光学检测)

简要描述:KOSAKA LAB ET 200A微型轮廓仪(光学检测)是株式会社小坂研究所的高精度微细形状测定机,基于Windows系统,采用金刚石探针接触测量,适用于多种材料表面形貌分析,如台阶、粗糙度等,配备多样探针,操作直观便捷,广泛应用于半导体、光电等领域。

  • 产品型号:ET200A型
  • 厂商性质:经销商
  • 更新时间:2024-09-05
  • 访  问  量: 114

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详细介绍

1. 样品台规格

样品台尺寸:Φ160mm

大工件尺寸:Φ200mm

大工件厚度:52mm

大工件重量:2kg

纵向调整范围:2.5" (±5mm/160mm)

样品台材质:黑色硬质铅

手动旋转:360°(手动粗调)、±5°(微调,小约0.5°)

2. 传感器参数

原理:光栅式传感器

Z方向测定范围:Max. 600μm

Z方向小分辨率(随放大倍率变化):

x5,000倍时:10nm ±300μm

x10,000倍时:5nm ±160μm

x20,000倍时:2.5nm ±80μm

x50,000倍时:1nm ±32μm

x100,000倍时:0.5nm ±16μm

x200,000倍时:0.25nm ±8μm

x500,000倍时:0.1nm ±3.2μm

x1,000,000倍时:0.05nm ±1.6μm

x2,000,000倍时:0.025nm ±0.8μm

测定力:10μN~500μN

触针半径:2μm 60° 钻石针头(另有多种可选)

驱动方式:直流伺服

重复性:te = 0.2nm (1μm以下台阶时)

3. X轴(基准轴/测量轴)参数

移动量(大行程):100mm (±50mm)

直线度:0.2μm/100mm (全量程),5nm/5mm (局部)

移动速度:0.005~20mm/s

线性度(linear scale):X方向分辨率 0.1μm

位置重复误差:±5nm

以下是详细列出的机械臂参数和功能:

4. Z轴参数

移动量:54mm

移动速度:大2.0mm/S

检出器自动停止机能

5. Y轴参数(手动定位用)

移动量:25mm(±12.5mm)

6. 工作观察参数

彩色1/3"CCD,配备x4物镜倍率

综合倍率:约320倍(使用19"显示器时)

视野范围:1.2mm x 0.9mm

观察方向:右侧斜视

照明系统:白色LED,支持软件调整明暗度

7. 软件功能简介

型号:i-STAR31

可设定测量条件菜单、重复测量设定及解析菜单

支持设定下针坐标,实现定位后自动测量及解析功能

配备低通滤波功能,有效过滤噪音及杂讯

具有返回测量起始点功能

显示倍率范围:垂直方向502,000,000倍,纵方向110,000倍

强大的解析功能,包括主要图形、段差解析、粗糙度解析、内应力分析及多种段差解析选项

8. 其他参数

床台材质:一体花岗岩

防振台(选购):提供落地型或桌上型选项

电源规格:AC220V±10%,50/60HZ,300VA本体外观尺寸及重量:W500×D440×H610mm,重120kg,采用一体花岗岩低重心结构设计(不含防振台)


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