薄膜计量红外光谱椭圆仪

1. 产品概述

SENTECH SENDIRA 为红外 （FTIR） 而设计。这款紧凑的台式仪器包括吹扫椭偏仪光学元件、计算机控制的测角仪、水平样品平台、自动准直望远镜、商用 FTIR 和 DTGS 或 MCT 检测器。FTIR 在 400 cm-1 至 6,000 cm-1 （1.7 μm – 25 μm） 的光谱范围内提供出色的精度和高分辨率。

2. 主要功能与优势

测量灵活性

SENTECH SENDIRA 椭圆偏振光谱仪可测量散装材料、单层和多层堆叠的薄膜厚度、折射率、消光系数和相关特性。该工具可用于覆盖在可见范围内不透明的层下方的层，使其可用于测量。可以分析材料的组成以及较大分子基团和链的取向。

椭圆振动光谱

利用红外光谱中分子振动模式的吸收带分析了薄层的组成。此外，载流子浓度可以用这种FTIR光谱椭偏仪测量。

适用的傅里叶变换红外

对于 Thermo Fisher Scientific 光谱仪的商用 FTIR iS50，安装了红外椭偏仪光学元件。它也可用于一般振动光谱法。

精确的测量和准确的结果

SENTECH SENDIRA注于薄层的振动光谱分析。应用范围从介电薄膜、TCO 和半导体到有机层。SENDIRA 由 SpectraRay/4 软件操作。另外还提供FTIR软件。