详细介绍
1.产品概述:
以 B1506A 功率器件分析仪为例,它是完整的功率电路设计解决方案 125。可在不同工作条件下评测功率器件的众多参数,如高达 3kV/1500A 的运行范围,能进行 IV 参数(击穿电压和导通电阻)测量,具备在高压偏置下的三端电容(如 Ciss、Coss、Crss 等)、栅极电荷(Qg)和功率损耗的测量功能,还支持 -50°C 至 +250°C 的全自动快速热测试等。
2.设备应用:
研发领域:帮助工程师在功率半导体器件的设计阶段,精确测量和分析器件的各种特性参数,如导通电阻、击穿电压、电容特性、栅极电荷等,为优化设计提供数据支持,加速研发进程。
生产环节:用于对功率器件进行大规模的质量检测和筛选,确保产品的性能和质量符合标准,提高生产效率和产品良率 5。
失效分析:当功率器件在使用过程中出现故障时,可通过该分析仪对器件进行详细的测试和分析,找出失效的原因和部位,为改进和修复提供依据 5。例如在新能源汽车的 “三电系统" 中,对功率半导体的测试就非常关键。
3.设备特点
一体化解决方案可以表征高达 1500 A 和 10 kV 的功率器件可在高压偏置下进行中档电流测量(例如 1200 V 时为 500 mA)μΩ 导通电阻测量能力在高压偏置下进行准确的皮安以下电流测量-50 ℃ 至 +250 ℃ 全自动热测试
在高达 3000 V 直流偏置下进行全自动电容(Ciss、Coss、Crss 等)测量
短 10 μs 的大功率脉冲测量
封装器件和晶圆上 IGBT/FET 栅电荷测量
用于表征 GaN 电流崩塌效应的高压/大电流快速开关选件
多达五个高压(3 kV)源表通道,大地提高灵活性
通过配有互锁装置的测试夹具进行安全的温度相关测试
无需重新连接线缆即可在高压测量和大电流测量之间切换
自动形成测试电路,用于测试封装器件和晶圆上器件的晶体管结电容(Ciss、Coss、Crss、Cgs、Cgd、Cds 等)
标配配有互锁装置的测试夹具,用于安全地测试封装功率器件
有支持和安全保障的晶圆上大功率测试,电流超过 200 A,电压高达 10 kV
示波器视图使您可以验证所输入的电压和电流波形
在 MS Windows 环境中运行的 EasyEXPERT 软件有助于改善数据管理和分析
多种测量模块可供选择
支持多达 6 个引脚的大功率器件
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