霍尔效应测试仪 简介： 1.系统功能：用于测量半导体材料的电阻率/电导率、流动性、散装/片状载体浓度、掺杂类型、霍尔系数、磁阻、垂直/水平阻力比的半导体高性能霍尔系统。模块化设计理念，允许轻松升级，该系统适用于各种材料，包括硅和化合物半导体和金属氧化物膜等。 2.该系统具有低电阻率和高电阻率测量功能，具有双重温度功能和一个可选的低温恒温器，可扩展该系统温度范围从90K到500K。

探针台 简介： 一、应用:主要应用于晶圆、芯片、器件、封装等半导体制程测试环节。 二、类型：分析直流、射频、高压、毫米波、太赫兹、硅光测量、芯片级测量、定制化等 三、概况：1. 样品尺寸：碎片~12英寸 2. 自动化：手动、半自动、全自动

它是利用阴极射线管产生高能量电子与金属靶撞击，在撞击过程中，因电子突然减速，其损失的动能会以X-Ray形式放出。而对于样品无法以外观方式观测的位置，利用其穿透不同密度物质后光强度的变化，产生的对比效果可形成影像，即可显示出待测物的内部结构，进而可在不破坏待测物的情况下观察待测物内部有问题的区域。

Comet Yxlon FF35 CT X射线系统是一种创新的多功能高分辨率CT系统 ，用于研发和质量保证领域。FF35 CT 符合 SEMI® 的严苛标准（包括 SEMI® S2-0818 和 SEMI® S8-0218 危险和安全标准）并通过了相应的认证。

X射线衍射仪XRD 产品概述： 智能X射线衍射仪SmartLab系列，可以广泛应用于各种材料结构分析的各个领域。可以分析的材料包括：金属材料、无机材料、复合材料、有机材料、纳米材料、超导材料。可以分析的材料状态包括：粉末样品、块状样品、薄膜样品、微区微量样品。

探针式轮廓仪/台阶仪技术优势：1. 每次扫描数据点：最多可达120.000数据点2. 最大样品厚度：50mm(2英寸)3. 最大晶圆尺寸：200mm(8英寸)4 台阶高度重现性：4A，1sigma在1um台阶上5. 垂直范围：1mm(0.039英寸)6.垂直分辨率：最大1A (6.55um垂直范围下)