它是一款全自动微形状测量机，具有出色的精度、稳定性和功能性，非常适合测量 FPD 基板、晶圆、硬盘等的精细形状、台阶和粗糙度。 此外，您可以从多种型号中进行选择，以适应您的应用。

CM300xi 探针台可应对极其复杂的环境带来的测量挑战，例如在长时间和多种温度下在小焊盘上进行无人值守的测试。在 EMI 屏蔽、光密和无湿气的测试环境中，为各种应用实现了的测量性能。热管理增强功能和实验室自动化功能可提高产量并缩短数据获取时间。对于低温测试，FormFactor的开放式IceShield™环境也可用于CM300xi。

SUMMIT200探针台专为研发、设备表征/建模或利基生产应用而设计，可在超低噪声、直流、射频、毫米波和太赫兹应用中进行温度范围内的精确电气测量，具有半自动和现在的全自动操作，可尽快获得准确数据。

入门级手动探针台，用于表面耦合和水平边缘耦合 FormFactor推出了一种具有成本效益的硅光子学测量解决方案，以支持新兴应用的基础研究工作。该系统的设计是FormFactor多年开发自动光子测量系统的经验 - 现在根据大学和其他入门级用户的需求量身定制。 MPS150可确保光纤可以精确对准，从而在不发生物理接触的情况下将光耦合进出设备。

CT系统CA20用于先进封装的亚微米3DX射线，CA20旨在以最高分辨率提供2D和3D图像，它允许对微米级细节进行最快的检测，并有助于缩短复杂3D IC的上市时间。

CC系列CT系统亮点 可靠、快速、可重复的检测 - 手动和自动 使用 VoidInspect 自动计算空隙 易于使用的动态增强滤镜，例如 eHDR 使用 micro3Dslice 和 FF CT 软件的最佳可用层析成像 用于敏感组件的剂量减少套件、剂量监测和低剂量检测器模式 可选的新型水冷 X 射线管，可实现稳定的焦点 可选高负载能力 （ 20 kg）